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■ 测试频率：最高1MHz时带偏移（±1%，±2%）
■ 精度：容量C：±0.07%，损耗D：±0.0005
■ 测试速度：最快2.3ms/次，5档速度选择
■ 11档分选，PASS/FAIL指示，档计数功能
■ 超稳定的ESR 1μΩ读数分辨率
■ 10点列表扫描，可对频率、电压进行扫描
■ 可替代Agilent E4981A
■ V、I 测试信号电平监视功能
■ 低阻抗测试，信号电平补偿功能
■ 内建比较器，11档分选
■ 内部文件存储和外部U盘文件保存
■ 测量数据可直接保存到U盘
■ 截屏保存到U盘
■ 兼容SCPI命令集
■ RS232C、USB CDC、LAN、GPIB接口
■ HANDLER接口、SCANNER接口、机械手接口
■ 接触检查功能
■ 同步信号源
TH2638 是用于陶瓷电容生产测试的一款电容表。TH2638 可用于在频率 100Hz，120Hz， 1kHz，10kHz，40kHz, 100kHz，1MHz 和测试信号电平（0.1V ∼1V）对陶瓷电容作出评估。
TH2638 可提供在所有频率下基本精度为±0.07%（C）、±0.0005（D）的 C-D 测量， 且在每个范围内都具有七位数的分辨率（损耗因数分辨率为 1 ppm）。
利用其内置的比较器，TH2638 可输出比较/判定结果，用于将元件分类为最多 10 个分 档（BIN）。此外，通过使用处理器接口和扫描仪接口选件，TH2638 很容易与元器件处理器、 扫描仪和系统控制器结合使用，以使元器件测试、分类和质量控制数据处理实现全自动化。
GPIB/LAN/USB 接口是 TH2638 上的标准接口（TH2638A/B/C 不包含 GPIB 和 Scanner 接口），并支持自动测试。
■ 电解电容器高速高精度测试
■ 陶瓷电容器高速高精度测试
■ 薄膜电容器高速高精度测试
■ 各种电容器生产线高速测试
■ 高速自动化生产线集成测试
■ 半导体、器件、材料分布电容测试
产品型号 | TH2638 |
显示 | 4.3 TFT LCD显示器480×272 |
基本测量准确度 | 容量C: 0.07%，损耗D：±0.0005 |
测试频率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz,1MHz,1MHz±1%,1MHz±2% |
AC信号电平 | 0.1V—1V,分辨率0.001V |
信号源输出阻抗 | 0.3Ω、1.5Ω、10Ω根据阻抗自动调整 |
测试参数 | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs |
测试速度(ms/次) | 2.3ms,2.5ms,3ms,3.3ms,10ms |
测试电容量程分布 | 1pF,2.2pF,4.7pF,10pF,22pF,47pF,100pF,220pF,470pF,1nF,2.2nF,4.7nF,10nF,22nF,47nF, 100nF,220nF,470nF,1μF,2.2μF,4.7μF,10μF,22μF,47μF,100μF,220μF,470μF, 1mF |
列表扫描 | 10点，扫描参数: 测试频率、AC电压 |
通用功能 | 串、并联等效模式，测试电缆长度：0、1m，平均:1-255次，校准:开路、短路、负载，ALC功能， 量程选择:自动、手动，触发模式:INT、MAN、EXT、BUS，触发延时：0-999s，键盘锁定功能 |
独有功能 | 接触检查功能，同步信号源功能，频率偏移功能（TH2638）、Cs-Rs-Ls（TH2638A）低输出阻抗，电平 补偿功能，一键截屏功能、一键记录功能 |
比较器 | 11档分选, PASS/FAIL指示,档计数功能 |
存储 | 40组仪器内置测试设定文件、USB存储器：40设定文件、GIF图像、CSV数据文件 |
接口 | RS232C,LAN,USBCDC,HANDLER,GPIB,SCANER |
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